作者:李春芝,甘卫华,鄢伟安
摘要:放宽单水平连续抽样方案(CSP-Ⅴ)无法考虑成本约束,第一类和第二类风险水平都很高,对过程状态判断滞后。提出CSP-Ⅴ和过程良率指数(Spk)集成过程控制方案。建立满足质量和成本约束的最优CSP-Ⅴ质量控制方案。构建基于Spk估计精确分布的风险控制方案,实现质量和成本约束下对两类风险的同时精确控制。集成方案实现了对过程状态实时无滞后的监控。集成控制方案充分利用数据的计数和计量特征驱动四类方案参数运行,没有增加检验工作量。为方便使用,给出三个方案列表。和传统CSP-Ⅴ方案的对比表明集成控制方案具有良好的接收概率曲线。应用实例验证了方案的可行性和有效性。
发文机构:华东交通大学交通运输与物流学院
关键词:过程良率指数过程控制质量成本连续抽样方案process yield indexprocess controlqualitycostcontinuous sampling plan
分类号: TH165.4[机械工程—机械制造及自动化]