应用田口质量工程于积层陶瓷电容器检验良率提升的研究

作者：陈启光,吴俊义

摘要：本文系探讨利用田口质量工程方法于积层陶瓷电容器的质量检验,尝试寻找该产品检验设备(M3300)之最佳参数设定值,以提升产品的内裂缺陷筛选率,增进产品质量水准.本研究选取可能影响该产品质量的7项参数,然后采用L18(21X37)直交表与S/N比值,探讨参数设定与产品内裂缺陷的关系.经过实证研究结果显示,应用田口质量工程方法于该产品检验设备之参数设定,将可以使产品出厂内裂缺陷数由667 PPM降低至167 PPM,产品报废率则由8.10%降低至5.74%.

发文机构：元智大学工业工程与管理研究所

关键词：田口质量工程积层陶瓷电容器质量检验检验设备缺陷Taguchi methodmultiplayer ceramic capacitor

分类号： TM53[电气工程—电器]F407.6[经济管理—产业经济]