扫描仪在岩矿鉴定与岩相学研究中的应用——薄片扫描法

作者：张贵山,彭仁,邱红信

摘要：利用偏光显微镜进行岩矿鉴定和岩相学分析是矿物学、岩石学研究的一项基本工作。常用偏光显微镜的观察视域范围狭小,视域大小不能随意变动,这对大视域观察与识别镜下岩石的结构、构造、显微地质现象和粗大矿物等造成困难。基于上述问题,本文在偏光显微镜成像原理基础上,开发出利用扫描仪和偏振光片获取岩石薄片大视域图像的方法,即薄片扫描法。该方法能获得大视域的单偏光和正交偏光图像,为科学研究提供精确的、全面的图像证据资料。薄片扫描法所需设备简单、操作简易、能获得全域精美的数字化图像、能清晰的反映矿物结构构造和地质现象,为识别矿物学和岩石学信息提供了科学方法。薄片扫描法适用于矿物颗粒粗大、形态复杂的显微地质现象,常规偏光显微镜下不能反映结构、构造的样品。薄片扫描法的成功开发,对岩相学、构造岩相学等方面的研究具有现实意义。

发文机构：长安大学地球科学与资源学院 西部矿产资源与地质工程教育部重点实验室

关键词：薄片扫描法大视域图像扫描仪偏振光片The thin section scanning methodlarge view imagescannerpolarizer

分类号： P575[天文地球—矿物学][天文地球—地质学]P585