聚焦离子束显微镜技术及其在地球和行星科学研究中的应用

作者：谷立新,李金华

摘要：聚焦离子束-扫描电子显微镜作为重要的微纳米尺度精细加工、微小样品制备和微区原位显微分析设备,与其他高精尖显微分析仪器(如透射电镜、离子探针、原子探针和同步辐射等)配合使用,可为纳米地球科学发展提供重要技术支撑。本文在简要介绍聚焦离子束-扫描电镜技术的原理、功能和技术发展的基础上,重点展示该技术在加工制备透射电镜超薄片样品和原子探针针尖样品中的应用,以及在代表性地学样品(如矿化微生物和页岩等)样品三维重构成像分析上的应用。最后,分析了该技术的未来发展趋势,并对它在地球和行星科学研究中的注意事项进行了初步探讨。

发文机构：中国科学院地质与地球物理研究所 中国科学院地球科学研究院

关键词：聚焦离子束扫描电镜透射电镜原子探针纳米地球科学行星科学focused ion beamscanning electron microscopytransmission electron microscopyatom probenanogeoscienceplanetary science

分类号： P585.1[天文地球—岩石学]