西红柿成熟度与电特性关系的无损检测研究

作者：郭文川,朱新华,周闯鹏,张晓军

摘要：本文利用LCR电桥测量仪和无损检测方法测定了不同成熟度(青、微红和红)西红柿的介电常数、等效阻抗、介质损耗因数等电特性.试验结果表明:在加载频率一定时,随着成熟度的提高,西红柿的相对介电常数增大,等效阻抗减小.在4KHz-150KHz的频段内,随着加载频率的增大,等效阻抗减小,相对介电常数略有减小,介质损耗因数在4KHz-20KHz的频段内变化较小.

发文机构：西北农林科技大学机电学院

关键词：西红柿成熟度电特性无损检测tomatodielectric propertymaturitynondestructive measurement

分类号： S641.2[农业科学—蔬菜学][农业科学—园艺学]