基于码密度法的FPGA进位链时延标定

作者：蔡东东,何在民,刘正阳,樊战友,武文俊

摘要：现场可编程门阵列(FPGA)内部专用进位链资源可应用于时间数字转换(TDC)的高精度测量。各级专用进位链的延迟时间很小,一般量级为数十皮秒至一百多皮秒。基于FPGA实现TDC精密测量要解决的一个核心问题是如何精确标定各级进位链的延迟时间,码密度法是实现延迟时间标定行之有效的手段之一。基于EP2S60F1020C4芯片,通过向进位链输入基准时钟周期范围内大量的随机脉冲,经统计处理得到每一级进位链单元的延迟时间。测试表明,延迟时间测量的分辨率为42.6ps。

发文机构：中国科学院国家授时中心 中国科学院时间频率基准重点实验室 中国科学院大学

关键词：现场可编程门阵列时间数字转换码密度法时间间隔测量专用进位链field-programmable gate array (FPGA)time-to-digital conversion (TDC)code density methodtime interval measurementdedicated carry chain

分类号： TN492[电子电信—微电子学与固体电子学]