红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用

作者：董殿会,程江,王广彪

摘要：由于传统的贝它（Beat）技术、伽玛（Gamma）技术和X射线（X—ray）技术，在测量超薄薄膜厚度时技术不完善，更无法测量多层共挤材料中阻隔层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近红外光具有不同吸收波长的原理，可测量多层共挤材料每一层的厚度；NDC近红外专利技术抑制了光学条纹干涉（OFI）的影响，能高精度、高分辨率、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度。

发文机构：NDC红外技术公司

关键词：红外测厚技术超薄薄膜多层共挤薄膜

分类号： TQ055.81[化学工程]TS252.7[轻工技术与工程—农产品加工及贮藏工程][轻工技术与工程—食品科学与工程]