扫描探针DFM模式下的炭黑表面微观结构研究

作者：张敬雨,欧洁,金永中,陈建

摘要：采用扫描探针显微镜（SPM）的技术，用动态非接触扫描模式DFM扫描炭黑微观的表面结构，通过加入适当的分散剂来观察单个炭黑粒子的表面形貌，得出了炭黑粒径及表面粗糙度等数值，发现表面粗糙度是炭黑补强的重要参数，丰富了炭黑补强在微观方面的内容。

发文机构：四川理工学院材料与化学工程系

关键词：炭黑表面微观结构扫描探针显微镜橡胶补强

分类号： TQ340.1[化学工程—化纤工业]