作者:沈自才,刘宇明,丁义刚,赵春晴,牟永强
摘要:薄膜材料在深空探测器中有着重要的应用,在深空环境辐照下,其力学性能将发生较大的变化。本文首先介绍了薄膜材料在深空探测器中的应用,接着对深空探测器常用kapton薄膜材料空间电子辐照和远紫外辐照下的力学性能进行了研究。研究发现,薄膜的抗拉强度和断裂伸长率随着拉伸速度的增加降低,随着远紫外曝辐量的增加而呈线性减小,随着电子辐照注量的增加而呈指数减小。
发文机构:北京卫星环境工程研究所
关键词:薄膜材料力学性能电子辐照远紫外辐照探测器
分类号: V476.4[航空宇航科学与技术—飞行器设计][航空宇航科学技术]